6 nm Short N-type Silicon AFM Tips

描述：sciventions為科學(xué)家們提供一個(gè)銷售平臺，銷售他們開發(fā)的沒有正式商品化的產(chǎn)品和因包裝太小而被單獨(dú)分離出來的產(chǎn)品，產(chǎn)品包括：納米粒子，AFM探針，聚苯乙烯粒子，高束縛表面用于ELISA實(shí)驗(yàn)的96微孔板(U型)。并提供相應(yīng)的掃描電鏡的圖片

更新時(shí)間：2016-12-01

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詳情介紹

Description: Silicon AFM probes are designed for contact mode applications. These probes feature shorter cantilevers, which provide better sensitivity without compromising on spring constant requirements. 5 AFM Tips per pack.

Material : N-type Silicon
Cantilevel Geometry :Pyramidal
Cantilever Number : 1
Cantilever Thickness : 1 µm
Back Side Coating: None
Top Layer Coating: None

Each tip contains 1 caivers with the following properties:

Tip	Shape	Length	Width	Force Const.	Res. Freq.	Tip Raidus
1	Pyramidal	225 µm	43 µm	0.10 N/m	28 kHz	6 nm

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